- 产品名称
- 一氧化硅
- CAS NO
- 10097-28-6
- 中文别名
- 氧化硅(II)
- 英文名称
- Silylene, oxo-
- 英文别名
- Siliconoxide (OSi) (8CI); Oxosilylene; Silicon monooxide; Silicon monoxide; Siliconoxide (SiO)
- 分子式
- OSi
- 分子量
- 44.08
- EINECS
- 233-232-8
- 熔点
- 1870 °C
- 沸点
- 1880°C
- 毒性
分子式:SiO
分子量:44.08
EINECS:-233-232-8
别 名:
别名英文名:Silicon monoxide,oxo-silylen
性状:块状或粉末体,块状为黑色甲壳状不规则块体。粉体为红褐色粉末。温度高于 700 ℃时 易氧化, 700 ℃ 以下温度性质稳定,不和除 HF 外的任何酸反应,不溶于碱和水。溶于稀氢氟酸和硝酸的混酸。
熔点:>1702℃
沸点:1880℃
密度:2.13 一氧化硅性脆结构致密。温度高于 1180 ℃时 为非稳定状态极易歧化为 Si 和 SiO 。在空气中加热时生成白色的二氧化硅粉末。由纯度99.5%的二氧化硅粉末与煤沥青粉末(或硅粉)以C/SiO2=1.3或Si/SiO2=1.2配比混 合,放入电加热的真空炉,注入非氧化性气体(如氩、氢等气体),高温反应,制得超细(0.1/μm以下)无定形氧化硅。极富有活性。固态一氧化硅可作绝缘 材料。
备注: 以上描述,仅作参考,并不表示您收到的产品,与此项描述完全相符,产品的出厂标准,请参见质量标准。
质量标准
外观Appearance 暗灰色或棕色粉末
纯度Purity ≥99.99% Based on Trace Metals Impurities of ICP
ICP Assay Confirms silicon component
痕量金属杂质trace metallic impurities ≤200ppm by ICP Atomic emission
粒径particle size 200mesh
镀膜级,99.8%,particle size 3.5-5 mm
纯度Purity ≥99.8 %
粒度particle size 3.5-5 mm
密度density 2.13 g/mL (25 °C)
贮存:严禁潮湿和高温地点存放。
用途:作为精细陶瓷原料具有重要价值。也可在真空中将其蒸发,涂在光学仪器用的金属反射镜上作保护膜。还可用于制造半导体材料。也用于光学玻璃。
联合国编号: